名   稱：大平片光譜測試儀

型   號：

品   牌：上海欣茂

上海欣茂大平片光譜測試儀手機屏薄膜反射儀產(chǎn)品簡介：

大平片光譜測試儀是專為手機屏IR 油墨小孔測量及液晶顯示屏、光學(xué)等制造行業(yè)的現(xiàn)場檢測和質(zhì)量控制設(shè)計的專用測試儀器。

上海欣茂大平片光譜測試儀手機屏薄膜反射儀特點和功能

1、采用*的光、機、電、微計算機模快化設(shè)計,具有超群的性能和性價比，使操作更為簡便。

2、配置高性能“全息光柵"的低雜散光高分辨率的單色器,具有出眾的光學(xué)精度及測量準確性。

3、儀器具有良好的穩(wěn)定性、重現(xiàn)性。

4、*的自動調(diào)校0%T和100%T等控制功能。

5、具有定波長測試、雙波長測試（550nm、850nm）及多波長測試和光譜掃描等功能。

6、儀器設(shè)計了可變狹縫及超小的測量孔徑，滿足客戶對各種樣品的需求。

7、可靠的斷電保護措施，可記憶測得數(shù)據(jù)、掃描圖譜、并實現(xiàn)了儀器快速初始化。

8、具有峰谷檢測以及平均值的求取等各種高級功能，可快速直接準確的直讀數(shù)據(jù)。

9、儀器具有超大的樣品室，克服了傳統(tǒng)儀器無法測試尺寸較大樣品的缺陷，不需要將樣品裁剪成小的尺寸就可直接測試了。

10、LCD數(shù)字顯示器可顯示透射比等參數(shù)以及波長讀數(shù)。

11、標準RS-232通訊接口(串口)，可通過XIN MAO用戶應(yīng)用軟件與電腦聯(lián)機，可實現(xiàn)光度測量、光譜掃描、定量測試、時間掃描及數(shù)據(jù)處理等功能，使分析工作更理想。

大平片光譜測試儀（手機屏IR 孔測量等）主要技術(shù)指標：

波長范圍： 325nm～1100nm

波長精度： ±1nm

波長重復(fù)性： ≤0.5nm

光譜帶寬： 1.6nm（最小測量直徑Φ0.5mm）

2.7nm（最小測量直徑Φ0.7mm）

5.0nm（最小測量直徑Φ1.1mm）

6.6nm（最小測量直徑Φ1.4mm）

測量范圍 0-125%T, -0.097-2.700A, 0-1999C

透射比準確度： ±0.5%（τ）

透射比重復(fù)性： ≤0.2%（τ）

基線直線性： ±0.004A

雜散光： ≤0.3%T(340、420nm)

最 大 可 測 片： 300mm x 400mm

工作電壓： AC 100V~240V 50Hz/60Hz